特性
- 串行接口：BiSS® C、FANUC、Mitsubishi、Panasonic、Siemens DRIVE-CLiQ®、Yaskawa
- 读数头尺寸：36 x 16.5 x 17.2 mm
- 100 m/s时分辨率达1 nm
- 20 °C时精度为±1 µm
- 20 °C时的栅尺热膨胀系数：0.75 ±0.35 µm/m/°C
- 提供真空兼容和侧面电缆出口型号
优点
- 精度极高且热膨胀接近零
- 优异的运动控制性能
- 超强的抗污能力
- 宽松的安装公差
- RMS抖动低于10 nm，提高了位置控制稳定性
- ±40 nm电子细分误差，可实现稳定的速度控制
- 高级诊断工具选件
技术规格
| 测量标准 | 绝对编码式高精度ZeroMet直线硬栅尺 |
| 读数头尺寸 (LxWxH) | 36 mm x 16.5 mm x 17.2 mm |
| 栅距 | 标称30 µm |
| 20 °C时的热膨胀系数 | 0.75 ±0.35 μm/m/°C |
| 20 °C时的精度等级 | 认证精度达到±1 µm，校准可溯源到国际标准 |
| 栅尺长度 | 一些BiSS C协议类型有最大长度限制（详见规格手册）80 mm至1.5 m |
| 最高速度 | （详见规格手册）最高可达100 m/s |
| 串行接口* | BiSS C、FANUC、Mitsubishi、Panasonic、Siemens DRIVE-CLiQ、Yaskawa |
| 分辨率 | BiSS C：分辨率为50 nm、5 nm和1 nmFANUC、Mitsubishi和Siemens DRIVE-CLiQ：分辨率为50 nm和1 nmPanasonic：分辨率为100 nm、5 nm和1 nmYaskawa：分辨率为50 nm和1 nm |
| 电子细分误差 (SDE) | ±40 nm |
| 电气连接 | 电缆长度长达10 m，采用D型连接器（9针或15针），散线，FANUC兼容连接器，LEMO以及M12 |
| 电源 | 5 V ±10%，5 V时最大为250 mA（带终端） |
| 振动（工作） | 55 Hz至2000 Hz时，最大振动为300 m/s2 |
| 冲击（非工作） | 1000 m/s2，6 ms，½正弦 |
| 工作温度 | 0 °C至+80 °C |
| 防护等级 | IP64 |
精越伺服
联系电话：18625060069（微信同号）
